技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLESJADE
科學(xué)家信賴的產(chǎn)品
Materials Data (MDI)總部位于美國(guó)加利福尼亞州,幾十年來(lái)專注于開發(fā)XRD分析軟件。自主開發(fā)的JADE*采用全譜擬合和Rietveld方法來(lái)分析XRD數(shù)據(jù),功能強(qiáng)大且使用方便,是分析XRD數(shù)據(jù)的選擇。尤其注重鑒定物相和定量分析,可實(shí)現(xiàn)非常規(guī)少量物相的準(zhǔn)確鑒定和定量分析。
JADE智能化分析XRD數(shù)據(jù)
— 分析結(jié)果更快、更準(zhǔn)
目前,ICDD-MDI共發(fā)行JADE Standard(JADE標(biāo)準(zhǔn)版)和JADE Pro(JADE 專業(yè)版)兩個(gè)系列。JADE Standard在基礎(chǔ)版本上,有兩個(gè)可選功能模塊,即Search/Match (S/M,物相檢索)和Whole Pattern Fitting (WPF,全譜擬合)。JADE Pro包含JADE Standard 版本中所有功能,物相鑒定、全譜擬合、Rietveld精修、晶粒尺寸和微觀應(yīng)力分析、粉末解析結(jié)構(gòu)等功能。
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