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關(guān)于XRD非晶態(tài)定量相分析,你了解多少?

更新時(shí)間:2020-08-06點(diǎn)擊次數(shù):11257

 

材料中所有物相含量,包括非晶相的含量,對(duì)于材料的性能至關(guān)重要。為了全面了解材料的性能,很多行業(yè)都關(guān)注非晶態(tài)的含量,如水泥業(yè)、礦物及采礦業(yè)(無序粘土)、聚合物、制藥業(yè)等。
 

1、XRD非晶態(tài)定量相分析的困難

 

利用XRD進(jìn)行晶態(tài)相的定量相分析,理論基礎(chǔ)完善,分析方法比較成熟,有大量相關(guān)文獻(xiàn),好多方法集成到相關(guān)軟件中。然而,對(duì)非晶態(tài)定量分析還存在不少困難,主要有以下幾點(diǎn):

 

 

 

  ♦ 非晶漫散峰在XRD圖譜中往往不是很明顯,特別是含量較低時(shí)

  ♦ 較寬的漫射峰會(huì)增加衍射峰重疊問題

  ♦ 難以區(qū)分衍射峰拖尾、非晶漫散峰以及背底強(qiáng)度(如下圖中紅、綠和藍(lán)線,哪條線是真正的背底呢?)

 

?

 

2、XRD非晶態(tài)定量相分析方法

 

然而,困難歸困難,方法還是有的。XRD非晶態(tài)定量相分析的方法主要有兩類:單一衍射峰法和全譜分析法。

 

 

 

2.1 單一衍射峰法


單一衍射峰法的原理就是建立非晶態(tài)含量(標(biāo)樣)和非晶漫散包的峰高強(qiáng)度的關(guān)系曲線(Wamorphous=A+Bh,其中h為非晶漫散包的凈高強(qiáng)度,其可由峰位平均強(qiáng)度減去背底強(qiáng)度得到)。這樣,定標(biāo)曲線建完后,只要測出未知樣品非晶包的凈高度,就可以根據(jù)上式計(jì)算出非晶態(tài)的含量。

 

 

2.2 全譜分析法

 

根據(jù)上述討論,單一衍射峰法原理很簡單,但實(shí)際操作比較復(fù)雜,需要提供幾種不同非晶態(tài)含量的標(biāo)樣來建立定標(biāo)曲線。如果沒有非晶標(biāo)樣,單一衍射峰法很難實(shí)現(xiàn)。另外,有時(shí)非晶峰不只一個(gè),這時(shí)我們也無法采用單一衍射峰法。因此實(shí)際操作中,往往采用全譜分析法來計(jì)算非晶態(tài)的含量。

 

1 常規(guī)全譜擬合法常規(guī)全譜擬合法

 

方法介紹

 

首先,找到一個(gè)和非晶相相同化學(xué)結(jié)構(gòu)的晶態(tài)相,假定非晶相是此晶相的微小晶粒,此晶相可以用于建立非晶相峰位和強(qiáng)度的模型;2)其次,先擬合純非晶相的譜線,以確定晶粒尺寸和微觀應(yīng)變;3)后,固定晶粒尺寸和微觀應(yīng)變,將此物相包括在傳統(tǒng)的Rietveld定量計(jì)算中,即可得到非晶態(tài)的含量。

 

 

 

常規(guī)全譜擬合法

 

優(yōu)點(diǎn)和局限性

 

優(yōu)點(diǎn):不需要準(zhǔn)備標(biāo)樣;可以處理多個(gè)非晶相;非晶相的強(qiáng)度因子(ZMV)由晶相的結(jié)構(gòu)因子決定;該法為直接計(jì)算非晶相含量的方法。局限性:有的非晶相找不到對(duì)應(yīng)的晶相結(jié)構(gòu)。


2 內(nèi)標(biāo)法內(nèi)標(biāo)法

 

方法介紹

 

1)在樣品中加入一定量的物相作為內(nèi)標(biāo);

2)將非晶相忽略或作為背底處理,使用正常的Rietveld定量計(jì)算,各個(gè)物相的重量百分比為:

 

 

 3)所有非晶相的含量可以由以下公式計(jì)算:

 

 

4)內(nèi)標(biāo)法為間接法計(jì)算非晶態(tài)含量。

 

內(nèi)標(biāo)法

 

優(yōu)點(diǎn)和局限性

 

優(yōu)點(diǎn):非晶相峰形可以用背底函數(shù)處理;數(shù)學(xué)處理簡單,結(jié)果較為準(zhǔn)確;很容易集成到任何Rietveld 分析軟件。局限性:需要準(zhǔn)確的晶相組成,否則定量結(jié)果是非晶和未知晶相的和;樣品污染;樣品制備麻煩,對(duì)工業(yè)界不合適;加入的內(nèi)標(biāo)物質(zhì)和待分析的樣品要有相近的X射線吸收系數(shù),否則會(huì)造成吸收誤差。
 

3 外標(biāo)法外標(biāo)法

 

方法介紹

 

外標(biāo)用來確定儀器常數(shù)K:

 

將整個(gè)樣品的質(zhì)量吸收系數(shù)μm和利用外標(biāo)計(jì)算的儀器常數(shù)K,代入Rietveld定量相分析,即可得到所有物相含量,包括非晶相含量;3)與內(nèi)標(biāo)法相似,外標(biāo)法也是通過差值計(jì)算非晶含量,為間接計(jì)算。

 

 

 

外標(biāo)法

 

優(yōu)點(diǎn)和局限性

 

優(yōu)點(diǎn):間接法;使用外標(biāo),不污染樣品。局限性:需要知道整個(gè)樣品的質(zhì)量吸收系數(shù);歸一化常數(shù)隨時(shí)間變化,需要定期重新確定。

 

4 PONKCS法PONKCS法

 

方法介紹

 

PONKCS(PartialOr No Known Crystal Structure)法,即部分已知或是未知晶體結(jié)構(gòu)定量相分析方法,它不僅適用于非晶態(tài)定量相分析,也適用于未知結(jié)構(gòu)的晶態(tài)相定量分析;2)經(jīng)典的 Rietveld 定量方法需要根據(jù)結(jié)構(gòu)參數(shù)計(jì)算所有晶態(tài)物相的ZMV值,我們是否能夠通過某種方法確定未知物相的ZMV值呢?答案是肯定的。未知結(jié)構(gòu)的ZMV值可通過測量目標(biāo)物相(α)和內(nèi)標(biāo)物相(s)的混合試樣得到。混合試樣中,Wα和Ws已知,則:

 

 

(ZMV)α沒有實(shí)際的物理意義,只是定量相關(guān)的參數(shù)。這樣只要計(jì)算出非晶相的ZMV值,就可以代入經(jīng)典的Rietveld定量分析求出非晶態(tài)含量。

 

PONKCS法

 

優(yōu)點(diǎn)和局限性

 

優(yōu)點(diǎn):可定量未知結(jié)構(gòu)物相;晶相和非晶相都可以包含在計(jì)算中;可同時(shí)處理多個(gè)非晶相。局限性:至少需要一個(gè)已知配比混合樣品以獲得未知物相的ZMV值。 

 

5 結(jié)晶度(Degree of Crystallinity,DOC)的計(jì)算結(jié)晶度的計(jì)算

 

方法介紹

 

1)測量樣品的全譜,可以明顯的看到非晶相的包絡(luò)線;

 

 

2)分別計(jì)算晶相和非晶相的積分面積:Crystalline Area=所有晶相衍射峰的積分面積和Amorphous Area=所有非晶相衍射峰的積分面積和3)結(jié)晶度(DOC)為晶態(tài)面積占總面積的比例:

 

3)          

4)除去結(jié)晶的部分,就是非晶態(tài)的含量。

 

結(jié)晶度的計(jì)算

 

優(yōu)點(diǎn)和局限性

 

優(yōu)點(diǎn):不需要準(zhǔn)備標(biāo)樣;結(jié)晶相和非晶相定義明確;結(jié)晶和非晶相衍射強(qiáng)度分別計(jì)算。局限性:有時(shí)不好定義非晶相;復(fù)雜曲線處理困難;非晶相衍射強(qiáng)度和背底重合;要求晶相和非晶相的化學(xué)組成相同。 

 

3、非晶態(tài)定量方法總結(jié)

 

1)使用何種非晶相定量方法,取決于樣品的性質(zhì)和對(duì)定量精度的要求;2)對(duì)于不同的定量方法,從理論上講,非晶相的定量精度和晶相應(yīng)該是一樣的,理想的誤差是1% 或更低;3)樣品的性質(zhì)和測量方法決定了測量精度;4)如果非晶相的衍射強(qiáng)度非常不明顯,尤其是在低含量的時(shí)候,使用內(nèi)標(biāo)(spiking)定量會(huì)準(zhǔn)確些,但要注意任何晶相的分析誤差都會(huì)轉(zhuǎn)移到非晶相結(jié)果;5)如果樣品非晶峰明顯,使用全譜擬合或PONKCS法會(huì)更方便。 

 

4、應(yīng)用舉例:PONKCS法非晶態(tài)定量相分析

 

1 樣品描述非晶態(tài)樣品為玻璃,且有純相,被用來作為PONKCS相。用來確定ZMV校準(zhǔn)常數(shù)的樣品為玻璃和剛玉的混合樣品,配比為1:1。

 

2 PONKCS法非晶態(tài)定量相分析具體步驟

 

  1)調(diào)入純非晶相的XRD數(shù)據(jù)“Sample 1.raw”。

  2)光源文件選擇CuKa5;背底選擇3級(jí)多項(xiàng)式。

  3)按下表輸入儀器參數(shù):

 

 

4)“Corrections”選項(xiàng),LP factor選擇0;5)插入4個(gè)峰(峰形SPV)來描述非晶信號(hào),并運(yùn)行擬合。工具欄中點(diǎn)擊“Show Background Curve”,即可看到精修后的背底信號(hào)(如下圖中傾斜的灰色線所示)。

 

 

 

6)固定背底,并刪除Peak phase。

 

 

 

7)右鍵Sample1.raw數(shù)據(jù),點(diǎn)擊“Add hkl Phase”。在hkl_Phase里面,按下圖輸入空間群和晶胞參數(shù),同時(shí)選中“Cry Size L”,設(shè)定初始值為3.5 nm,限定其值介于3.3~3.7之間,然后運(yùn)行擬合。

 

 

 

 

8)取消“Delete hkls on Refinement”后的對(duì)號(hào)。選擇 “Scale”后的方框,在“Value”輸入0.00001,再將Fix改為Refine。同時(shí)固定晶粒尺寸Cry size L。

 

 

9)選擇“hkls Is”界面,把強(qiáng)度I設(shè)為固定值。

 

 

10)在參數(shù)窗口,右鍵Sample1.raw,選擇“Replace Scan Data”,找到Sample2.raw(用于確定ZMV的標(biāo)樣,玻璃和剛玉1:1混合試樣)。

 

 

11)調(diào)入剛玉的結(jié)構(gòu)文件:Corundum.Str。12)Background選擇“Refine”,在“Corrections”界面選中“Sample Displacement”,并將其code改為“Refine”,同時(shí)在“Corundum”的“Microstructure”界面選中“Cry Size L”和“Strain L”,并“Refine”。之后運(yùn)行擬合。13)點(diǎn)擊“hkl_phase”,在cell mass欄輸入一個(gè)任意初始值,并逐漸改變?cè)撝?,使?jì)算的內(nèi)標(biāo)含量跟加入值一樣(50%),此時(shí)的值即為該非晶相對(duì)應(yīng)的ZM值)。

 

 

 

14)右鍵“hkl_Phase”,點(diǎn)擊Save Phase,保存建好的結(jié)構(gòu)文件,命名為Glass。默認(rèn)為inp格式,保存之后把文件的擴(kuò)展名改為Str。此結(jié)構(gòu)文件可作為該非晶相的PONKCS結(jié)構(gòu)文件用于定量分析使用。

 

 

 

15)調(diào)入另外一個(gè)數(shù)據(jù)Sample4.raw,用剛才的非晶相PONKCS結(jié)構(gòu)文件(Glass.str),進(jìn)行Rietveld無標(biāo)定量相分析,可得實(shí)際樣品中的非晶態(tài)玻璃相的含量為75.24%。

 

 

 

 

 

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