国产精品久久久久久岛国欧美|偷拍精品视频一区二区三区自拍|一二三区精品福利视频 ||成人区人妻精品一区二区不卡动

產(chǎn)品中心

PRODUCTS CENTER

當前位置:首頁產(chǎn)品中心PID產(chǎn)品臺式雙面電池PID測試儀PIDcon bifacial臺式雙面電池PID測試儀

臺式雙面電池PID測試儀
產(chǎn)品簡介

臺式雙面電池PID測試儀用于單面及雙面電池,HIT、Topcon、PERC/PERC+太陽能電池、晶體硅太陽能電池、微型模塊等的質(zhì)量控制Freiberg公司與德國FraunhoferCSP公司合作開發(fā)了一種可作為商業(yè)應用的臺式太陽能電池和微型模塊的電勢誘導退控制的測量解決方案

產(chǎn)品型號:PIDcon bifacial
更新時間:2024-09-12
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:1868
詳細介紹在線留言

雙面電池問題:        

將電池的后側(cè)改為光蓋,被發(fā)現(xiàn)使雙面PERC電池和模塊對后側(cè)的新型PID敏感,即去極化型PID(PID-p)和腐蝕型PID機制(PID-c)。

解決方案:        

為了測試電池的這些類型的PID,我們開發(fā)了PIDcon雙面體。它是用溫度、照明和高電壓對完整的電池進行壓力測試,它可以在兩個方向上進行極化。通過測量照明下的IV曲線,可以確定PID的靈敏度。

臺式雙面電池PID測試儀應用:        

太陽能電池片PID檢測

HIT、Topcon 、PERC、AL-BSF、PERC+、雙面PERC、PERT、PERL和IBC太陽能電池的研究、生產(chǎn)和質(zhì)量控制。

欲了解更多信息,請訪問 www.pidcon。。com        


臺式雙面電池PID測試儀PIDcon bifacial的特點:        

● 符合IEC62804-TS標準

● 易于使用的臺式設(shè)備

● 能夠測量c-Si太陽能電池和微型模塊

● 無需氣候室

● 無需層壓電池

● 測量速度:小時至數(shù)天

● 可測量參數(shù):分流電阻、功率損耗、電導率、漏電流、濕度、溫度

● 太陽能電池可以在以后通過EL等進行研究

● 基于IP的系統(tǒng)允許遠程操作和技術(shù)支持從世界任何地方

標準試驗條件:        

● 電壓:upto1.5kV

● 溫度:85°C

● 測試時間:4hours(typical)

● 干燥條件下,不需要水

類型                          受壓                                                     恢復
PID-s正面                85°C,+1.5 kV                             85°C,-1.5 kV

PID-p背面             85°C,+1.5 kV,無照明 85°C,        暗儲存或光照

PID-c背面                   85°C,+1.5 kV, 照明                    不可恢復

層壓      150°C,20min

樣品尺寸   210×210mm

適用于 A   PERC,AL-BSF,IBC,PERC+,雙面PERC,p型和n型電池 功率要求 110/230 V AC, 50/60 Hz

資質(zhì)認證   根據(jù)ISO9001準則制造,符合CE標準


參考文獻: cells  (1)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Local corrosion of silicon as root cause for potential induced  degradation at the rear side of bifacial PERC solar cells. physica status solidi (RRL)–Rapid Research Letters. 2019, doi 10.1002/pssr.201900163

(2)V. Naumann, K. Ilse, M. Pander, J. Tr?ndle, K. Sporleder, C. Hagendorf, Influence of soiling and moisture ingress on long term PID susceptibility of photovoltaic

modules, AIP Conference Proceedings 2147, 090005 (2019).

(3)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Root cause analysis on corrosive potential-induced degradation effects  at the rear side of bifacial silicon PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 201, 110062 (2019).

(4)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, S. Richter, A. H?hnel, S. Gro?er, M. Turek, C. Hagendorf, Microstructural Analysis of Local Silicon Corrosion of Bifacial Solar Cells

as Root Cause of Potential‐Induced Degradation at the Rear Side, Phys. Status Solidi A (2019), doi:10.1002/pssa.201900334.

(5)K. Sporleder, J. Bauer, S. Gro?er, S. Richter, A. H?hnel, M. Turek, V. Naumann, K. Ilse, C. Hagendorf, Potential-Induced Degradation of Bifacial PERC Solar Cells Under  Illumination, IEEE Journal of Photovoltaics 9 (6) 1522-1525, 2019.

(6)K. Sporleder, M. Turek, N. Schüler, V. Naumann, D. Hevisov, C. P?blau, S. Gro?er, H. Schulte-Huxel, J. Bauer, C. Hagendorf, Quick test for reversible and irreversible  PID of bifacial PERC solar cells, Solar Energy Materials and Solar Cells 219, 110755, 2021.

(7)K. Sporleder, V. Naumann, J. Bauer, D. Hevisov, M. Turek, and C. Hagendorf, Time-resolved Investigation of Transient Field Effect Passivation States during Potential  Induced Degradation and Recovery of Bifacial Silicon Solar Cells , Solar RRL, 2021, accepted.



在線留言

留言框

  • 產(chǎn)品:

  • 您的單位:

  • 您的姓名:

  • 聯(lián)系電話:

  • 常用郵箱:

  • 省份:

  • 詳細地址:

  • 補充說明:

  • 驗證碼:

    請輸入計算結(jié)果(填寫阿拉伯數(shù)字),如:三加四=7

掃一掃,關(guān)注公眾號

服務(wù)電話:

021-34685181 上海市松江區(qū)千帆路288弄G60科創(chuàng)云廊3號樓602室 [email protected]
Copyright © 2024束蘊儀器(上海)有限公司 All Rights Reserved  備案號:滬ICP備17028678號-2